走査型電子顕微鏡（SEM）

顕微鏡

設備ID： 33474

型番 SU8600
メーカー日立ハイテク
メーカー公式ページ https://www.hitachi-hightech.com/jp/ja/products/microscopes/sem-tem-stem/fe-sem/su8600.html
導入年月日 2024/03
概要高輝度コールドFE電子銃により低エネルギー条件でも高い分解能を維持し、低加速電圧で試料の極表面構造の解析が可能となっている。さらに、Upper、Top、Lower、OCD-BSEの各種検出器及びエネルギー分散型X線検出器（EDS）も有しており、ライフサイエンスから材料まで幅広い分野の観察・分析で利用できる。
その他にも、高精細画像キャプチャ、連続切片自動撮像機能（ACAT）、光電子相関顕微鏡法（MirrorCLEM）といった機能も実施が可能な機種となっている。
【キーワード】形態観察
仕様
利用対象者学内限定

米子