透過型電子顕微鏡（TEM）

顕微鏡

設備ID： 33460

要予約

型番 JEM-2100Plus
メーカー JEOL
メーカー公式ページ https://www.jeol.co.jp/products/scientific/tem/JEM-2100Plus.html
導入年月日 2024/3/27
概要十分に薄い試料に対し高電圧(本装置では最高 200 kV)で加速した電子線を照射し,透過・回折した電子を結像させることで試料の内部構造を評価。
ナノスケールでの直接的な微細構造の観察,電子回折パターンによる微小領域における結晶構造評価,付属 EDS 検出器によるナノオーダーの微小領域での元素分析が可能。
仕様電子銃：LaB6
利用可能な加速電圧：200 kV （常用）, 80 kV
TEM 分解能（200 kV）：粒子像 0.23 nm,格子像 0.14 nm
STEM分解能（200 kV）：1.0 nm
検出器：CMOS, EDS, STEM（明視野・暗視野）
利用対象者学外利用可能学外からの設備共同利用案内

鳥取